开创性地将 CMOS 技术引入了 EBSD 技术中,几经迭代,将 EBSD 技术引向了更广阔和深远的研究领域。

定制 CMOS 传感器专门定制的 CMOS 传感器支持 Symmetry S3 EBSD探测器达到更加优异的性能;支持 C+ 系列的 C-Nano+ 和C-Swift+分别具有高分辨率和高速的特点。

光纤耦合带来高灵敏度

牛津仪器 CMOS EBSD 采用光纤耦合光学系统,进光不受镜头光圈限制。相比传统的透镜耦合,大大地提高了探测器的灵敏度,甚至可以用于钙钛矿有机物等鈁孚讖薊晝养呗癜挚эẻ夫靡流敏感材料的 EBSD 采集。

高温荧光屏 (可选)

新一代高温荧光屏,采用红外光学滤镜技术,能有效过滤高温引起的红外背底,保留花样信号。

全能型 EBSD 探测器

SymmetryS3 电子背散射衍射探测器是全能型 Symmetry产品系列中的第三代探测器。S3 将高速分析(>5700 花样/秒)与各种优良的功能相结合,确保更加优异的性能,满足各领域科研的需要。

SymmetryS3 是一款旨在从各种类型的样品中，提供出色结果的 EBSD探测器。无透镜光纤耦合相机系统，可在所有分析条件下，实现出色的灵敏度，从東流敏感材料的分析到常规样品的高速表征。高像素分辨率与有保证的亚像素花样失真水平相结合，使S3 成为应变深入分析和高精度EBSD 工作的理想选择。软件控制的探测器倾转功能,确保了对每种尺寸和形状的样品,都能在优化的几何位置进行采集。

6种相机模式,适合日常及高难度分析高达 1244x1024 像素的花样图像分辨率采集速度 >5700 花样/秒,同时分辨率为156x128 像素

Symmetry S3 的荧光屏升降控制。无论样品大小、高低,探测器前端总能保持在最佳采集位置

高分辨型 EBSD 探测器

C-Nano+ 是一款出色的 CMOS EBSD 探测器，可提供百万像素分辨率的 EBSD 花样，并保证超过 600 花样/秒的分析速度。

这一点，再加上其光纤光学系统带来的高灵敏度，使 C-Nano+ 成为对具有挑战性的材料(包括陶瓷和矿物)进行高精度分析的理想选择。

百万像素 1244x1024分辨率花样,同时采集速度达到 80 花样/秒:非常适合 HR-EBSD研究以及详细的应变分析和相鉴定最大分析速度达到 600 花样/秒,分辨率为312x256 像素,仅用 3 nA 束流(在钢、Ni上

新一代 EBSD 数据处理软件

标准配置:满足您常规 EBSD 数据分析的需求

大多数 EBSD 数据分析,需要的是常规的数据处理,如绘制各种面分布图、统计晶粒尺寸、分析织构、查看晶界、研究应变等。AZtecCrystal 标准配置提供了强大、便捷的工具,满足您多样的数据处理需求。AZtecCrystal的处理速度大大提高，非常适合处理高速 CMOS EBSD 探测器采集的大数据。无论新手还是专家,您都能得心应手!

l超过 30 种面分布图,可无限组合定制即时测量晶粒尺寸,满足 ISO 和 ASTM 标准,提供超过 30 种晶粒参数

l完整的织构分析,包括极图、反极图和取向分布函数

l全面分析晶界，包含取向差分析和晶界长度详细统计表

l与电子图像关联分析,校正面分布图畸变