移动样品时，也可以实时呈现元素面分布图像
高灵敏度
高空间分辨率
降低样品损伤
减少样品污染
Ultim Max系列拥有大面积SDD和能够探测到Li元素的Extreme集成电路。

实时电子图像及元素分布图像呈现

u 同步呈现电子图像以及元素分布图同步呈现，无需在二者间频繁切换

灵活记录

u 在快速的扫描样品时，稍做停留即可获得高质量元素分布图

路径记录

u 自动记录位置信息，以及相应位置的元素信息，不会漏掉任何感兴趣的特征

u 以不同亮度呈现元素含量的分布情况，一目了然

u 选择感兴趣的位置，一键返回

Ultim@Max 提供硬件支持

u 大面积能谱效率效果好，是实时获得元素面分布图的硬件保证

Ultim® Max探头采用了更大的SDD晶体以及高灵敏的Extreme集成电路

u 更大的晶体有效面积(40 mm²,65 mm²，100 mm²,170 mm²)保证了所有情况下的高计数率

u 低噪音X射线探测提供最准确的结果可在高达400 kcps的计数率下进行准确定量

u 定性分析计数率高于1000 kcps

晶体面积对结果影响明显

u 与10mm²的探头相比，在相同条件下对相同区域进行分析，您可以使用170mm²探测器:

u 将时间缩短为原来的1/17

u 针对束流敏感样品，束流仅为原来的6%，可以减少样品损伤，减少样品碳污染

让困难样品的分析变得简单

u 低电压性能:纳米材料、不导电样品、更少的样品损伤

u 高灵敏性:轻元素及纳米材料

u 提高SEM-EDS分析轻元素及纳米材料的能力

u Ultim Extreme无窗能谱具有低电压下低能端X射线灵敏性

不同面积，相同能量分辨率

u 所有Ultim@ Max探测器均具有相同的能量分辨率

u Mn Ka 保证能量分辨率127eV @130,000cpsFKa保证能量分辨率64eV@130,000cps

u CKa 保证能量分辨率56eV@130,000cps