Opticline测量解决方案可用于测量各种轴类工件，有多种多样的分析选项和众多的应用领域。采用快 速、非接触光学测量原理， 测量特别灵活、可重复而且精确。1986年业纳研发了第一台轴类光学测量机，经过30多年的技术积累，我们已拥有行业全部的解决方案及规格型号的 设备，客户群体遍布各个行业。