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    Opticline测量解决方案可用于测量各种轴类工件,有多种多样的分析选项和众多的应用领域。采用快 速、非接触光学测量原理, 测量特别灵活、可重复而且精确。1986年业纳研发了第一台轴类光学测量机,经过30多年的技术积累,我们已拥有行业全部的解决方案及规格型号的 设备,客户群体遍布各个行业。

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